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    X射線儀器百科

    X射線自發現至今有百年歷史,經過許多X射線工作的努力,對其理論已經研究的相當透徹并獲得廣泛引用。X射線是波長很短的電磁波,在波譜范圍表中X射線的波長范圍恰好和物質機構單元的尺寸位于同一量級,因此X射線做為物質結構分析和監測手段得到十分廣泛的應用。1912年德國物理學家勞厄發現X射線穿過物質的衍射現象,1913年英國物理學家Bragg父子根據晶面反射原理推出著名的bragg定律,從而奠定了X射線衍射的理論基礎。通過測定衍射角位置(峰位)可以進行化合物的定性分析,測定譜線的積分強度(峰強度)可以進行定量分析,而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。

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