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    膠囊、明膠中鉻的快速檢測---X光熒光分析法百科

    X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一臺波長色  X射線熒光分析 散X射線熒光分析儀,至60年代本法在分析領域的地位得以確立。現代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成:X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統(分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統(脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。不同元素具有波長不同的特征X射線譜,而各譜線的熒光強度又與元素的濃度呈一定關系,測定待測元素特征X射線譜線的波長和強度就可以進行定性和定量分析。本法具有譜線簡單、分析速度快、測量元素多、能進行多元素同時分析等優點,是目前大氣顆粒物元素分析中廣泛應用的三大分析手段之一(其他兩方法為中子活化分析和質子熒光分析)。

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